薄膜測厚儀
簡要描述：
瑞士SYLVAC薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據(jù)測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。
產(chǎn)品時間：2020-06-30
瑞士SYLVAC薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據(jù)測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。
適用于電子行業(yè)，光伏行業(yè)，醫(yī)療行業(yè)，新能源汽車行業(yè)，鋰電池行業(yè)用于測量薄膜厚度，具有精度高，測量效率快的特點。
而且這款薄膜測厚儀可實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸，支持數(shù)據(jù)導入導出，很方便的將數(shù)據(jù)進行采集及分析，可追溯性強，滿足車間現(xiàn)場已經(jīng)實驗室對于薄膜的測量需求。
 | 分辨率：0.1μm 測力：0.3-1.3N（根據(jù)需要選擇） |
 | 分辨率：1μm 測力：0.4-1.6N（根據(jù)需要選擇） |
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